FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro คืออะไร
FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro เป็นเครื่องมือสำหรับวิเคราะห์ขนาดอนุภาคในกลุ่ม Laser Particle Sizer ของ FRITSCH ที่ถูกออกแบบให้รองรับ “งานวัดมาตรฐานทั่วไป” ในสายการผลิตและห้องแล็บ โดยเน้นความแม่นยำ ความรวดเร็ว และการใช้งานที่ไม่ซับซ้อน เครื่องรุ่นนี้เหมาะกับผู้ใช้งานที่ต้องการข้อมูล particle size distribution เพื่อใช้ในการวิจัย พัฒนาสูตรผลิตภัณฑ์ หรือควบคุมคุณภาพกระบวนการผลิต เช่น ผงเคมี, วัตถุดิบในอาหาร, เม็ดสี, ฟิลเลอร์ และสารแขวนลอยต่าง ๆ
จุดเด่นสำคัญคือช่วงการวัด 0.5 – 1500 µm ซึ่งครอบคลุมตัวอย่างส่วนใหญ่ในงานอุตสาหกรรม และมีฟังก์ชันการวัดแบบเปียก (Wet Dispersion Unit) ที่ช่วยให้ตัวอย่างกระจายในของเหลวได้ดี ทำให้การวัดมีความเสถียร และผลลัพธ์ทำซ้ำได้เหมาะกับงาน QC และ R&D
หลักการทำงานของ FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro
เครื่องรุ่น Micro ใช้หลักการวิเคราะห์แบบ static light scattering หรือ laser diffraction เช่นเดียวกับรุ่น Nano โดยฉายแสงเลเซอร์ผ่านตัวอย่างที่ถูกกระจายอย่างเหมาะสม แล้วตรวจวัดรูปแบบการกระเจิงของแสงจากอนุภาคในตัวอย่าง เพื่อนำมาคำนวณการกระจายขนาดอนุภาค เมื่อแสงเลเซอร์ผ่านตัวอย่าง อนุภาคแต่ละขนาดจะกระจายแสงต่างกัน ระบบตรวจจับ (detector) จะเก็บสัญญาณเหล่านี้แล้วประมวลผลเป็นข้อมูล particle size distribution ทำให้เหมาะกับงานที่ต้องการผลแม่นยำ รวดเร็ว และทำซ้ำได้ดี
รุ่น Micro ถูกออกแบบมาให้รองรับการวัดแบบเปียกผ่านชุด Wet Dispersion Unit ทำให้ใช้กับตัวอย่างประเภทสารแขวนลอย อีมัลชัน และของแข็งที่ต้องกระจายในของเหลวก่อนวัดได้ดี ซึ่งช่วยลดการจับตัวเป็นก้อนและเพิ่มความเสถียรของผลการวัด
การประมวลผลสัญญาณจากการกระเจิงแสงทำผ่านซอฟต์แวร์ควบคุมของเครื่อง โดยแปลงผลเป็นกราฟและตารางการกระจายขนาดอนุภาค ผู้ใช้สามารถอ่านผลได้ง่ายและนำไปใช้เปรียบเทียบตัวอย่างแต่ละชุด เพื่อปรับสูตร ควบคุมคุณภาพ หรือประเมินวัตถุดิบได้สะดวก
การวัดแบบ Wet Dispersion (รุ่น Micro)
FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro รองรับการวัดแบบเปียกผ่านชุด Wet Dispersion Unit ที่ออกแบบเป็นระบบวงจรของเหลวแบบปิด (closed liquid circulation system) พร้อมปั๊มแบบแรงเหวี่ยงปรับความเร็วได้ วิธีนี้เหมาะสำหรับตัวอย่างที่ต้องกระจายในของเหลว เช่น สารแขวนลอย อีมัลชัน และผงที่ต้องการแยกตัวก่อนวิเคราะห์ ช่วยให้อนุภาคแยกตัวดี ลด agglomeration และทำให้ผลการวัดมีความแม่นยำมากขึ้น การวัดแบบ Wet Dispersion ยังช่วยให้ควบคุมสภาพการกระจายตัวของตัวอย่างได้ดี ทำให้ผลลัพธ์สม่ำเสมอและใช้งานต่อในงานวิจัยและ QC ได้จริง โดยรุ่น Micro สามารถบันทึกพารามิเตอร์ระหว่างการกระจายตัวเพื่อใช้ในการวิเคราะห์เพิ่มเติมได้ด้วย
หลักการ Static Light Scattering ในรุ่น Micro
เช่นเดียวกับรุ่น Nano เครื่อง ANALYSETTE 22 NeXT Micro ใช้หลักการ Static Light Scattering / Laser Diffraction โดยฉายเลเซอร์จากแหล่งกำเนิดหนึ่งตัวผ่านตัวอย่าง แล้วตรวจวัดรูปแบบการกระเจิงของแสงด้วยชุด detector ที่ออกแบบเฉพาะ หลักการนี้รองรับการวิเคราะห์อนุภาคในช่วงขนาดกว้าง (0.5 – 1500 µm) และให้ผลที่รวดเร็วแม่นยำ จึงเป็นเหตุผลที่เครื่องรุ่น Micro ถูกใช้ในงานวัดอนุภาคทั่วไปในห้องแล็บและโรงงานที่ต้องการข้อมูลเชื่อถือได้ แต่ไม่จำเป็นต้องลงถึงระดับนาโน
การแปลงสัญญาณเป็นผลการวิเคราะห์
เมื่อ detector ได้รับสัญญาณการกระเจิงแสงจากตัวอย่าง ซอฟต์แวร์ MaS control / NeXT Control จะประมวลผลเป็นกราฟการกระจายขนาดอนุภาคและตารางข้อมูล ผู้ใช้งานสามารถดูค่าเช่น D10, D50, D90 และรูปแบบ distribution ได้อย่างชัดเจน การแสดงผลในรูปกราฟและตารางช่วยลดความซับซ้อนในการตีความข้อมูล ทำให้ผู้ใช้สามารถนำไปใช้ในงานพัฒนาสูตร ควบคุมคุณภาพ และทดสอบวัตถุดิบได้ง่ายและเป็นระบบ
จุดเด่นของการวัดด้วย Laser Diffraction (รุ่น Micro)
การวัดด้วย Laser Diffraction ให้ผลรวดเร็ว รองรับตัวอย่างได้หลายประเภท และมีความสามารถในการทำซ้ำได้ดี ทั้งในงานผลิตและงานแล็บ โดยรุ่น Micro ถูกออกแบบให้เป็น “economy alternative” สำหรับช่วงการวัด 0.5 – 1500 µm ที่ครอบคลุมงานวัดส่วนใหญ่ ข้อดีอีกอย่างคือความสะดวกในการใช้งานและการทำความสะอาด เครื่องมีขนาดกะทัดรัด ใช้เลเซอร์ตัวเดียว และออกแบบให้บำรุงรักษาน้อย แต่ยังคงความแม่นยำและความเสถียรของผลการวัด
การใช้งานในห้องแล็บและอุตสาหกรรม (รุ่น Micro)
FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro ถูกใช้งานอย่างแพร่หลายในงานวิจัย งานพัฒนา และงานควบคุมคุณภาพที่ต้องการข้อมูลการกระจายขนาดอนุภาคในช่วงไมครอน เช่น ผงเคมี, วัตถุดิบอาหาร, เม็ดสี, วัสดุก่อสร้าง และสารแขวนลอยทั่วไป ด้วยช่วงการวัด 0.5 – 1500 µm ที่เหมาะกับ “typical measurement tasks” เครื่องรุ่นนี้จึงเป็นตัวเลือกหลักสำหรับผู้ที่ต้องการตีความขนาดอนุภาคอย่างเป็นระบบ โดยไม่จำเป็นต้องลงทุนในรุ่น Nano ที่เน้นช่วงนาโนและมีระบบ detector เพิ่มเติม
คุณสมบัติเด่นของ FRITSCH A22 NeXT Micro
FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro คือเครื่องวัดขนาดอนุภาคด้วยเลเซอร์ที่ให้ผลแม่นยำ รวดเร็ว และใช้งานง่าย เหมาะสำหรับงานห้องแล็บ งานวิจัย และงานควบคุมคุณภาพในอุตสาหกรรมที่ต้องการช่วงการวัด 0.5 – 1500 µm
คุณสมบัติเด่น (ผู้ใช้ Micro จะต่างจาก Nano ตรงช่วงการวัดและระดับความละเอียด)
- วัดได้ครอบคลุมช่วง 0.5 – 1500 µm สำหรับงานวัดทั่วไปในอุตสาหกรรมและแล็บ
- ใช้เวลาวัดสั้น โดยปกติใช้เวลาน้อยกว่าหนึ่งนาทีต่อการวิเคราะห์หนึ่งชุด
- รองรับการกระจายตัวแบบเปียกผ่าน Wet Dispersion Unit สำหรับตัวอย่างของแข็ง สารแขวนลอย และอีมัลชัน
- ทำความสะอาดง่ายและบำรุงรักษาน้อย ด้วยการออกแบบให้ใช้เลเซอร์หนึ่งตัวและโครงสร้างที่ทนทาน
- ซอฟต์แวร์ใช้งานสะดวก ช่วยควบคุมเครื่อง บันทึกผล และจัดการรายงานข้อมูลการกระจายขนาดอนุภาคได้ดี
- เหมาะกับผู้ที่ต้องการเครื่องวัดอนุภาคที่แม่นยำ ใช้งานคล่อง และรองรับงานได้หลากหลาย โดยเน้นงานวัดในช่วงไมครอนมากกว่าช่วงนาโน
เปรียบเทียบรายละเอียดเครื่อง A22 NeXT Micro กับ A22 NeXT Nano
| Item | A22 NeXT Micro | A22 NeXT Nano |
|---|---|---|
| Technical data – Measuring Unit | ||
| Measuring range | 0.5 – 1500 µm | 0.01 – 3800 µm |
| Analysis method | Static light scattering (laser diffraction) | Static light scattering (laser diffraction) |
| Type of analysis | Wet measurement of the particle size of solids, suspensions and emulsions | Wet measurement of the particle size of solids, suspensions and emulsions |
| Measurement value | Particle size | Particle size |
| Theory | Fraunhofer, Mie | Fraunhofer, Mie |
| Standard | ISO 13320 | ISO 13320 |
| Optical design | Reverse Fourier design | Reverse Fourier design |
| Laser | Green (λ = 520 nm) | Green (λ = 520 nm) |
| Laser beam alignment | Automatic | Automatic |
| Laser class according to IEC 60825-1 | Class 1 | Class 1 |
| Detector system | Standard detector system | Additional detector system for higher sensitivity |
| Large angle detectors | Yes | Yes |
| Backward scattering channels | Yes | Yes |
| Typical measuring time | 5–10 s (measurement value recording of an individual measurement) 1 min (entire measurement cycle) |
5–10 s (measurement value recording of an individual measurement) 1 min (entire measurement cycle) |
| Evaluation | Particle size distribution as a total curve, bar chart or in table form | Particle size distribution as a total curve, bar chart or in table form |
| Electrical details | 100–240 V/1~, 50–60 Hz, 120 Watt | 100–240 V/1~, 50–60 Hz, 120 Watt |
| Net weight | 21.8 kg | 21.8 kg |
| Dimensions (W × D × H) | 67 × 35 × 32 cm | 67 × 35 × 32 cm |
รายละเอียดของเครื่อง FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro
Item
Technical Data
Technical data - Measuring Unit
Measuring range
0.5 – 1500 µm
Analysis method
Static light scattering (laser diffraction)
Type of analysis
Wet measurement of the particle size of solids, suspensions and emulsions
Measurement value
Particle size
Theory
Fraunhofer, Mie
Standard
ISO 13320
Optical design
Reverse Fourier design
Laser
Green (λ = 520 nm)
Laser beam alignment
Automatic
Laser class according to IEC 60825-1
Class 1
Detector system
Standard detector system
Large angle detectors
Yes
Backward scattering channels
Yes
Typical measuring time
5–10 s (measurement value recording of an individual measurement)
1 min (entire measurement cycle)
Evaluation
Particle size distribution as a total curve, bar chart or in table form
Electrical details
100–240 V/1~, 50–60 Hz, 120 Watt
Net weight
21.8 kg
Dimensions (W × D × H)
67 × 35 × 32 cm
อุตสาหกรรม
การใช้งานทั่วไป
ยาและเภสัชกรรม
วิเคราะห์ขนาดอนุภาคของผงยา สารแขวนลอย และตำรับที่ต้องการความสม่ำเสมอของอนุภาค
เคมี
ควบคุมคุณภาพผง สารกระจายตัว และวัตถุดิบที่ใช้ในกระบวนการผลิต
อาหารและเครื่องดื่ม
ตรวจสอบอีมัลชัน สารแขวนลอย และความสม่ำเสมอของส่วนผสมละเอียด
เครื่องสำอาง
ควบคุมขนาดอนุภาคในครีม โลชั่น และผลิตภัณฑ์ที่มีอีมัลชันเป็นฐาน
วัสดุศาสตร์
วิเคราะห์อนุภาคละเอียด ฟิลเลอร์ และวัสดุเชิงฟังก์ชัน
สีและสารเคลือบผิว
วัดเม็ดสี สารกระจายตัว และความเสถียรของสูตรเคลือบผิว
แบตเตอรี่และพลังงาน
วัดขนาดอนุภาคของวัสดุขั้วไฟฟ้าและสูตรสารละลายแบบ slurry
งานวิจัยและพัฒนา
ใช้ศึกษาการกระจายขนาดอนุภาคเพื่อพัฒนาผลิตภัณฑ์และทดสอบตัวอย่าง
รายการอุปกรณ์เสริม
รายละเอียด
Wet Dispersion Unit
ชุดกระจายตัวอย่างแบบเปียก สำหรับวัดตัวอย่างประเภทของแข็ง สารแขวนลอย และอีมัลชัน
Dry Dispersion Unit
ชุดกระจายตัวอย่างแบบแห้ง สำหรับตัวอย่างผงที่ไม่เหมาะกับการวัดในของเหลว
Ultrasonic Box
ชุดอัลตราโซนิกสำหรับช่วยกระจายตัวอย่างที่จับตัวเป็นก้อน
Cuvette
ชุดวัดแบบใช้ปริมาตรต่ำ เหมาะสำหรับตัวอย่างปริมาณน้อย
Conversion Kit Extended
ชุดเพิ่มความทนทานต่อสารเคมีรุนแรง สำหรับงานที่ต้องการความเข้ากันได้สูง
Software package
ซอฟต์แวร์ควบคุม บันทึก และวิเคราะห์ผลการวัด
Computer set
ชุดคอมพิวเตอร์พร้อมจอภาพ คีย์บอร์ด และเมาส์ สำหรับใช้งานเครื่อง
คำถาม
คำตอบ
1. FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT Micro คืออะไร
เป็นเครื่องวิเคราะห์ขนาดอนุภาคด้วยเลเซอร์ สำหรับงานวัดขนาดอนุภาคในช่วงไมครอน
2. เครื่องรุ่นนี้ใช้หลักการอะไร
ใช้หลักการ Static Light Scattering หรือ Laser Diffraction
3. ช่วงการวัดของรุ่น Micro คือเท่าไร
ช่วงการวัดอยู่ที่ 0.5 – 1500 µm
4. รุ่น Micro เหมาะกับตัวอย่างประเภทใด
เหมาะกับของแข็ง สารแขวนลอย และอีมัลชันที่ต้องการวิเคราะห์ขนาดอนุภาค
5. เครื่องนี้วัดแบบเปียกหรือแบบแห้งได้หรือไม่
รุ่น Micro รองรับการวัดแบบเปียกเป็นหลัก และสามารถใช้อุปกรณ์เสริมตามลักษณะงานได้
6. ผลลัพธ์ที่ได้จากเครื่องคืออะไร
ได้ผลเป็นการกระจายขนาดอนุภาค หรือ Particle Size Distribution
7. เครื่องรุ่นนี้ใช้ในอุตสาหกรรมใดบ้าง
ใช้ในอุตสาหกรรมยา เคมี อาหาร เครื่องสำอาง วัสดุศาสตร์ สีและสารเคลือบผิว และแบตเตอรี่
8. เครื่องนี้ใช้เวลาวัดนานไหม
ไม่มาก โดยทั่วไปใช้เวลาวัดเพียงไม่กี่วินาทีต่อหนึ่งรอบการวิเคราะห์
9. ต้องเตรียมตัวอย่างอย่างไร
ต้องกระจายตัวอย่างให้เหมาะสมก่อนวัด เพื่อให้อนุภาคแยกตัวและให้ผลที่แม่นยำ
10. เครื่องรุ่นนี้ใช้งานยากไหม
ไม่ยาก ระบบถูกออกแบบให้ใช้งานง่าย และทำงานร่วมกับซอฟต์แวร์ได้สะดวก
11. ซอฟต์แวร์ของเครื่องช่วยอะไรได้บ้าง
ช่วยควบคุมเครื่อง บันทึกข้อมูล และแสดงผลการวิเคราะห์เป็นกราฟและตาราง
12. รุ่น Micro เหมาะกับงานประเภทไหน
เหมาะกับงานควบคุมคุณภาพ งานวิจัย และงานพัฒนาผลิตภัณฑ์
13. เครื่องนี้ทำความสะอาดง่ายหรือไม่
ทำความสะอาดได้ง่าย ช่วยลดเวลาหยุดเครื่องและเพิ่มความสะดวกในการใช้งาน
14. จุดเด่นหลักของรุ่น Micro คืออะไร
จุดเด่นคือวัดได้รวดเร็ว แม่นยำ ใช้งานง่าย และเหมาะกับงานวัดขนาดอนุภาคระดับไมครอน
15. รุ่น Micro ต่างจากรุ่น Nano อย่างไร
รุ่น Micro เหมาะกับช่วงการวัดระดับไมครอน ส่วนรุ่น Nano เหมาะกับงานที่ต้องการช่วงการวัดกว้างและความละเอียดสูงกว่า
ตัวอย่างการวัดอนุภาคด้วยเครื่อง Laser Particle Sizer FRITSCH A22 NeXT Nano
บริษัท คัลเลอ โกลโบล จำกัด เป็นผู้นำเข้าและตัวแทนจำหน่ายเครื่องบดตัวอย่าง, เครื่องวัดขนาดอนุภาคเลเซอร์สำหรับงานวิเคราะห์ระดับนาโนและเครื่องเตรียมตัวอย่าง FRITSCH อย่างเป็นทางการเพียงผู้เดียวในประเทศไทย ให้บริการทั้งด้านการจำหน่าย ให้คำปรึกษา การทดสอบตัวอย่าง และบริการหลังการขายสำหรับเครื่องบดตัวอย่างรุ่น ANALYSETTE A22 NeXT Micro รวมถึงเครื่องรุ่นอื่น ๆ ในตระกูล FRITSCH ทีมงาน Color Global มีประสบการณ์ในการเลือกเครื่องมือที่เหมาะสมกับประเภทตัวอย่างและกระบวนการผลิตของลูกค้าในอุตสาหกรรมต่าง ๆ พร้อมสนับสนุนการติดตั้ง อบรมการใช้งาน และการบำรุงรักษาเครื่องบดและเครื่องเตรียมตัวอย่างอย่างต่อเนื่อง
สามารถติดต่อขอข้อมูลผ่านช่องทางไลน์ หรือส่งข้อมูลผ่านแบบฟอร์มติดต่อขอรายละเอียดบนเว็บ ได้ผ่านช่องทางติดต่อที่ระบุบนเว็บไซต์ Color Global หรือสามารถติดต่อผ่านช่องทาง Line Officeial Account ได้ที่ @colorglobal เพื่อขอใบเสนอราคาและนัดสาธิตเครื่องได้โดยตรงครับ
